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能量色散X熒光光譜儀簡稱XRF測試儀、RoHS檢測儀器、RoHS鹵素測試一體機，是一種物理的元素分析方法。近年來RoHS檢測儀主要作為一種快速無損易操作的設(shè)備，在電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等行業(yè)發(fā)揮了很大的作用。XRF、RoHS檢測儀具有多種元素同時分析、分析成本低，不加任何外置條件，易上手等特殊技術(shù)優(yōu)勢。

通過高壓產(chǎn)生電子流達到X光管中靶材產(chǎn)生初級X光，初級X光經(jīng)過過濾和聚集射入到待測樣品產(chǎn)生次級X射線，也是通常說的X熒光，X熒光被探測器探測到后經(jīng)過放大，數(shù)模轉(zhuǎn)換輸入到計算機，計算機然后后通過計算，才能得出測試樣品的結(jié)果。

X射線熒光光譜法是利用樣品對x射線的吸收隨樣品中的成分及其多少變化而變化來定性或定量測定樣品中成分的一種方法。它具有分析迅速、樣品前處理簡單、可分析元素范圍廣、譜線簡單，光譜干擾少，試樣形態(tài)多樣性及測定時的非破壞性等特點。它不僅用于常量元素的定性和定量分析，而且也可進行微量元素的測定，其檢出限多數(shù)可達10-6。與分離、富集等手段相結(jié)合，可達10-8。測量的元素范圍包括周期表中從S-U的所有元素。多道分析儀，在幾分鐘之內(nèi)可同時測定20多種元素的含量。

x射線熒光法不僅可以分析塊狀樣品，還可對多層鍍膜的各層鍍膜分別進行成分和膜厚的分析。

當(dāng)試樣受到x射線，高能粒子束，紫外光等照射時，由于高能粒子或光子與試樣原子碰撞，將原子內(nèi)層電子逐出形成空穴，使原子處于激發(fā)態(tài)，這種激發(fā)態(tài)離子壽命很短，當(dāng)外層電子向內(nèi)層空穴躍遷時，多余的能量即以x射線的形式放出，并在教外層產(chǎn)生新的空穴和產(chǎn)生新的x射線發(fā)射，這樣便產(chǎn)生一系列的特征x射線。特征x射線是各種元素固有的，它與元素的原子系數(shù)有關(guān)。所以只要測出了特征x射線的波長λ， 可以求出產(chǎn)生該波長的元素。即可做定性分析。在樣品組成均勻，表面光滑平整，元素間無相互激發(fā)的條件下，當(dāng)用x射線（一次x射線）做激發(fā)原照射試樣，使試樣中元素產(chǎn)生特征x射線（熒光x射線）時，若元素和實驗條件一樣，熒光x射線強度與分析元素含量之間存在線性關(guān)系。根據(jù)譜線的強度可以進行定量分析。

ROHS檢測分析儀；

地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析；

金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；

黃金、鉑、銀等貴重金屬和各種首飾的含量檢測；

主要應(yīng)用于ROHS指令相關(guān)行業(yè)，貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構(gòu)；

電鍍行業(yè)。