二手晶片平坦度儀型號(hào)NidekFT-17翹曲度測(cè)量?jī)x器日立品牌晶圓片平面測(cè)試儀器轉(zhuǎn)讓包培訓(xùn)保修服務(wù) |
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Nidek 晶片平坦度/翹曲度測(cè)量?jī)xFT-17和FT-900(Si/Ge/GaAs/InP/SiC/LT/LN) Nidek高精密平面度檢測(cè)儀, 適用于透明晶體物體(如藍(lán)寶石晶片等)和LED外延晶片、芯片的檢測(cè)。 其應(yīng)用不僅局限于對(duì)藍(lán)寶石襯底單面/雙面的表面平坦檢測(cè),而且更多地應(yīng)用于對(duì)外延之后,外延層表面品質(zhì)、TTV等的檢測(cè)和評(píng)估。 在電腦顯示屏上,它可自動(dòng)生成三維立體的表面彩色效果圖,以幫助人們清楚細(xì)微地、直觀地了解和掌握對(duì)象物表面層生長(zhǎng)的情況。 此外,它也適用于液晶電視屏幕面板所需要的大而平的圖形掩膜的檢測(cè)。 Nidek高精密平面度檢測(cè)儀, 適用于透明晶體物體(如藍(lán)寶石晶片等)和LED外延晶片、芯片的檢測(cè)。 其應(yīng)用不僅局限于對(duì)藍(lán)寶石襯底單面/雙面的表面平坦檢測(cè),而且更多地應(yīng)用于對(duì)外延之后,外延層表面品質(zhì)、TTV等的檢測(cè)和評(píng)估。 在電 測(cè)試項(xiàng)腦顯示屏上,它可自動(dòng)生成三維立體的表面彩色效果圖,以幫助人們清楚細(xì)微地、直觀地了解和掌握對(duì)象物表面層生長(zhǎng)的情況。 該產(chǎn)品目前已在國(guó)內(nèi)大手廠商中廣泛采用,特別是在外延片的品質(zhì)檢測(cè)方面。頗受好評(píng)。 據(jù)不完全統(tǒng)計(jì),至2012年底該產(chǎn)品已被國(guó)內(nèi)LED襯底和外延片80多家廠家所使用。 吸附:GFLR、GF3D、GF3R、TV、GBIR、TAPER、TAng、SFLR、SFLD、SFQR、SF3R、SF3D、SBIR、SBID 非吸附:BOW、SORI、整體應(yīng)力、局部應(yīng)力 可測(cè)試晶片種類 切割片、研磨片、拋光片、外延片、磊晶片 可選配光刻區(qū)域模擬軟件、應(yīng)力分析軟件等
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