晶片推力測(cè)試,金線拉力測(cè)試,特斯精密封裝推拉力試驗(yàn)機(jī) |
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TEST系列推拉力測(cè)試機(jī)適用于焊球推力測(cè)試 焊線拉力測(cè)試 晶片與基板膠水粘接力測(cè)試 鋁帶拔脫力測(cè)試 三點(diǎn)折彎(下壓測(cè)試) TEST系列推拉力測(cè)試機(jī)設(shè)備優(yōu)勢(shì): 精準(zhǔn):采用德國(guó)精密傳感技術(shù),與自主研發(fā)高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),全量程24Bit力學(xué)信號(hào)解析率,測(cè)試數(shù)據(jù)更加精確,精準(zhǔn)度高達(dá)±0.1 穩(wěn)定:設(shè)備主要部件采用進(jìn)口傳動(dòng)部件,確保機(jī)臺(tái)運(yùn)行穩(wěn)定性及數(shù)據(jù)穩(wěn)定 專業(yè):根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品需求,由專業(yè)技術(shù)人員提供專用技術(shù)方案;配置測(cè)試專用的傳感器模塊、夾具、推刀和鉤針。 簡(jiǎn)單:自主研發(fā)的V2.0測(cè)試軟件,支持軟件功能定制、研發(fā);全屏中文顯示,簡(jiǎn)潔明了;(出口支持軟件英文顯示) 高效:讓測(cè)試設(shè)備更加契合客戶的實(shí)際應(yīng)用,助力客戶提升工藝品質(zhì),降低成本消耗 自動(dòng)測(cè)試:點(diǎn)擊測(cè)試按鈕,設(shè)備將進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試,全程無(wú)需人為干預(yù),以保證測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠 焊球推力測(cè)試技術(shù)優(yōu)勢(shì): AST自動(dòng)變檔技術(shù):自主研發(fā)軟件結(jié)合邏緝算法,系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別力值并變檔,無(wú)需做任何量程設(shè)定。 VPT垂直定位技術(shù):根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品需求自由輸入剪切高度,精準(zhǔn)度高達(dá)微米級(jí);具有動(dòng)作快、接觸力輕、剪切高度準(zhǔn)、無(wú)偏移的優(yōu)點(diǎn),確保推力模塊精準(zhǔn)定位。 VTT垂直牽引技術(shù):拉力測(cè)試過(guò)程中主力軸不傾斜,是保證測(cè)試數(shù)據(jù)精準(zhǔn)的必要條件;確保拉力測(cè)試模塊徹底消除在測(cè)試時(shí),主力軸傾斜后分力對(duì)測(cè)試結(jié)果的誤差。 ICT智能兼容技術(shù):不同主機(jī)之間可互換測(cè)試模塊,且不損耗精度,保證了同一測(cè)試模塊在不同主機(jī)上工作時(shí)測(cè)試數(shù)據(jù)的可靠性、以及一致性。 焊線拉力測(cè)試軟件功能亮點(diǎn): 測(cè)試曲線圖實(shí)時(shí)顯示,可導(dǎo)出為圖片;或選擇自動(dòng)保存曲線,無(wú)需人工操作,即可自動(dòng)導(dǎo)出曲線圖。 SPC數(shù)據(jù)導(dǎo)出,自帶當(dāng)前測(cè)試數(shù)據(jù)的最大值、最小值、平均值、CPK計(jì)算、及測(cè)試時(shí)間和測(cè)試人員,保證測(cè)試數(shù)據(jù)的真實(shí)、有效性。 開(kāi)放兼容性的MES系統(tǒng),可與工廠內(nèi)網(wǎng)連接,實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)隨時(shí)上傳。 防撞限速:不同的測(cè)試產(chǎn)品,限速位置可輸入或直接獲取當(dāng)前位置,速度根據(jù)測(cè)試人員需求輸入;是保護(hù)設(shè)備的重要功能之一。 晶片與基板膠水粘接力測(cè)試校準(zhǔn)方式: 采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)方法:砝碼校準(zhǔn),以保證設(shè)備校正數(shù)據(jù)的可靠性。 軟件自帶校準(zhǔn)、重復(fù)性測(cè)試、線性測(cè)試功能;砝碼滿足國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),可于第三方檢測(cè)。 校正數(shù)據(jù)自動(dòng)保存在測(cè)試電腦中,可導(dǎo)出Excel表格、打印,供用戶查驗(yàn)。 鋁帶拔脫力測(cè)試 三點(diǎn)折彎(下壓測(cè)試)儀器產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 所用測(cè)試均經(jīng)過(guò)檢測(cè)公司測(cè)試,設(shè)備總體系統(tǒng)精準(zhǔn)度達(dá)到0.1以下(公開(kāi)標(biāo)稱0.25) 滿足任何苛刻要求的ic制造工藝要求. 適用于led封裝、半導(dǎo)體封裝、汽車電子、太陽(yáng)能產(chǎn)業(yè)及各研究所、院校、可靠性分析機(jī)構(gòu)材料分析和電子 |
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