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光學(xué)元件外觀缺陷檢測儀,利用光學(xué)方法，采用權(quán)值成像數(shù)據(jù)分析原理，用來檢測光學(xué)元件的表面外觀缺陷問題。測量時，將待測產(chǎn)品置于光學(xué)鏡頭下方，逐個采集每個產(chǎn)品表面的圖像，并對圖像進行連續(xù)的數(shù)字化處理分析，然后與預(yù)存的“標(biāo)準(zhǔn)”進行比較分析進而作出缺陷結(jié)論。

極高的性價比：

完全的自主知識產(chǎn)權(quán)大大提高了性價比，使客戶不論在投資和管理上都能輕松的使用光學(xué)元件外觀缺陷檢測儀。

強大的檢測能力：
采用自主開發(fā)的操作軟體，配合高像素彩色攝像機和特殊的光源設(shè)置，能夠檢測包括劃痕、臟污、印子等各種類型的表面缺陷，同時可達15微米/象素的高分辨率，完全適應(yīng)任何元器件的檢測。
強大的自動學(xué)習(xí)功能：
編程簡單快捷，同時強大的自動學(xué)習(xí)功能，使各種規(guī)格、類型的器件都可以通過在器件輪廓處畫框?qū)W習(xí)，電腦主板的編程時間為1.5~2小時，能很好的適應(yīng)生產(chǎn)線的快速變化。
極高的易用性：
中英文界面可選，并配備學(xué)習(xí)向?qū)�，操作簡單；另外只需要器件�?/span>XY坐標(biāo)和電路板的出料單（BOM）或者貼片機導(dǎo)出文件就可以自動學(xué)習(xí)。

光學(xué)元件外觀缺陷檢測儀
判別方法：權(quán)值成像數(shù)據(jù)差異分析、彩色成像比對原理

檢測內(nèi)容：元件有無、偏斜、劃痕、缺塊、臟污、印子、污染、缺件、偏移、歪斜、錯件、破損、刮傷、灰塵、長度、寬度、角度、弧度等缺陷。

隨著電子產(chǎn)品的日益復(fù)雜化和制造業(yè)的人工成本越來越高，提高生產(chǎn)率和自動化將是必然的趨勢，能夠提供優(yōu)化的技術(shù)和方案給客戶對臺州振皓的長遠業(yè)務(wù)發(fā)展至關(guān)重要。